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第1018章 硬件性能综合测试(2 / 2)

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3. 环境控制

实验室无恒温设备,技术员用煤炉加热配合开窗通风,将温度稳定在 25±3℃;地面洒少量水控制湿度,用毛发湿度计测量(1970 年天津气象仪器厂生产),确保湿度在 60%-70% 之间 —— 避免湿度过高导致晶体管引脚氧化,湿度过低产生静电干扰。

【1973 年技术背景:此时国内尚无数字化测试设备,依赖模拟仪器与人工操作;晶体管是核心器件(集成电路仅在高端设备试用),温度对其放大倍数影响显着,因此环境控制是测试关键。】

二、加密速度测试:机械秒表下的 “字符竞速”(1973.04.06)

【场景重现:技术员李师傅左手扶密码机,右手持机械秒表,徒弟小张按预定明码(如 “01234”“”)转动密码机旋钮输入;示波器连接密码机内部晶体管电路,显示加密时的脉冲波形,每出现一组完整脉冲代表一个字符加密完成。历史录音(磁带音质):“准备 —— 输入 —— 开始!” 秒表按下的 “咔嗒” 声与密码机旋钮的 “转动声” 交织。】

1. 不同长度明码测试

5 字符明码:测试 10 次,秒表记录时间分别为 0.9 秒、1.0 秒、0.8 秒…… 平均时间 0.9 秒,折算加密速度约 5.6 字符 / 秒,超过设计的 5 字符 / 秒指标;

10 字符明码:10 次测试平均时间 1.8 秒,速度 5.5 字符 / 秒,保持稳定;

20 字符明码:因旋钮输入需切换档位,平均时间 3.9 秒,速度 5.1 字符 / 秒,仍达标 —— 但发现 “连续输入 20 字符后,最后 2 个字符加密脉冲略有延迟”,排查为某只 3AX31 型晶体管放大倍数下降,更换后延迟消失。

2. 核心器件性能验证

用万用表测量密码机内 12 只核心晶体管(3AX31 型锗管,1973 年北京半导体厂生产)的放大倍数(β 值),均在 50-80 之间,符合设计要求(β≥40);示波器显示加密时的时钟脉冲频率稳定在 5kHz,无明显抖动 —— 这是速度达标的核心保障。

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